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詳細資料

三豐SV-C3200S4表面粗度輪廓儀 ?

1.三豐SV-C3200S4表面粗度輪廓儀 ?系統(tǒng)：

檢出器測力：0.75 mN

1-1.系統(tǒng)圖

1-2.數(shù)據(jù)處理部

2.的主機規(guī)格：

2-1.測量表面粗糙度時

 適用標準：JIS1982/JIS1994/JIS2001/ISO1997/ANSI/VDA

 評價輪廓：基本曲線／粗糙度曲線／包絡(luò)殘余線／過濾波形曲線／帶通波曲線／波紋度曲線／滾環(huán)波紋曲線／

           粗糙度motif／波紋度motif／DIN4776

帶專業(yè)控制器的高精度日本三豐高性能、袖珍型表面粗糙度測量儀，操作簡單，顯示一目了然。

Surftest (表面粗糙度測量儀) SJ-500, SV-2100 178 系列 — 帶有控制 / 裝置型表面粗糙度測量儀

帶控制器的高精度，高性能， 袖珍型表面粗糙度測量儀，操作簡 單，顯示一目了然。

●配有7.5英寸彩色TFT液晶屏幕、大號彩色 圖標與觸控式面板控制，該顯示裝置操 作簡單，讀取容易。

●控制部的內(nèi)置操縱桿使得定位快捷簡 便。測量小孔內(nèi)側(cè)時可使用手動旋鈕對 細小觸針的位置進行微調(diào)。

●表面粗糙度測量條件的設(shè)置簡單易行。 利用簡單的輸入功能可按ISO/JIS/ANSI/ VDA粗糙度標準計算繪圖指令符號

評估能力：

適用標準:
JIS 82, JIS 94, JIS 01, ISO, ANSI, VDA
評估輪廓:
 P (原始輪廓), R (表面粗糙度曲線), DIN4776, 粗糙度曲線motif
評價參數(shù):
 Ra, Ry, Rz, Rt, Rp, Rq, Rv, Sm, S, Pc, R3z, mr (c), Rpk, Rvk,δc, Rk, Mr1, Mr2,

  Lo, Ppi, R, AR, Rx, A1, A2, Vo, HSC, mr,SK, Ku, Δa, Δq, Wte, Wx, W, AW (可定制)

  Rz1max (ISO),Rmax (VDA, ANSI)
分析圖表:                ADC、BAC、功率譜圖
評價曲線                斷面曲線、粗糙度曲線、DF曲線、波紋曲線表面粗糙度MOTIF、波形MOTIF線

解析圖表               負荷曲線、振幅分布曲線

曲線補償               拋物線、雙曲線、圓錐、圓、二次曲線、傾斜補償、無補償
濾波類型                 2CR, PC75, 高斯
截止波長                 lc:0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8,25mm
                              ls: 0.25,0.8,2.5, 8, 25,80,250μm 無濾波器

                              lf:0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8,25mm 無濾波器

取樣長度:               0.025,0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8,25mm;

三豐SV-C3200S4表面粗度輪廓儀 ?技術(shù)資料：

*1: 儀器本體的一部分采用天然石材，所以表面會有些花紋的情況。 注: 雖然天然石材測量桌的外觀各有不同，但材料的穩(wěn)定性是值得信賴的。

*2: 使用可選簡易工作臺時：0.4µm/50mm，使用可選手動柱形工作臺時：0.3µm/50mm。

*3: SJ-500除外。 注: SJ-500的工作臺為可選件。詳情請參見L-15頁

三豐SV-C3200S4表面粗度輪廓儀 ?特點：

• 配備高可見度7.5 英寸TFT LCD 屏幕。彩色圖標顯示、觸控式面板，顯示更清晰，操作更簡單，讀取容易。
• 輕松定位使用控制器內(nèi)置的操縱桿，輕松、快速地定位。小孔內(nèi)側(cè)的測量，需要對微小測頭進行微調(diào)。利用手動手柄，實現(xiàn)輕松微調(diào)。
• 表面粗糙度測量條件的設(shè)置簡單易行。利用配備的簡單輸入功能，可按照ISO/JIS粗糙度標準的繪圖指令符號進行輸入。以往非常麻煩的測量條件設(shè)置如今可輕松輸入，從菜單上直接選取表面粗糙度的繪圖指令符號即可。